塗装・コーティング膜測定測定パルステラヘルツシステム

テラヘルツパルスエコーによる膜厚評価

  • テラヘルツパルスエコーで薄膜、多層膜の評価
  • 各層の界面でテラヘルツパルスの一部を反射します。
  • 広いテラヘルツ帯域幅が高解像度を実現
  • M反射・透過の幾何学的測定
  • 推奨システム: TeraFlash pro, TeraFlash smart

非接触測定のアプリケーション

非接触式の厚さ測定は、工業プロセスのモニタリングや品質管理において、ますます重要な役割を果たしています。自動車製造では、塗料やコーティング層の正確な厚さは、全体的な外観だけでなく、紫外線や腐食からの保護にも重要な役割を果たしています。医薬品では、塗料の厚さが体内への薬剤の放出を左右し、その効果や潜在的な副作用に影響を与えます。チップ製造では、高均質なポリマーコーティングは、湿気やほこりからの保護と応力緩和剤の両方の役割を果たします。  

テラヘルツパルスの特徴

従来の厚さ計のほとんどは、被検査層との物理的な接触を必要とし、非金属基板の場合には失敗します。対照的に、テラヘルツパルスは、隣接する膜の屈折率が異なる場合に限り、個々の層の厚さを測定します。透過率や反射の形状を非接触で測定することで、濡れたコーティングの乾燥や硬化プロセスを監視することもできます。この解析では、テラヘルツパルスエコーの飛行時間測定と、フーリエ変換と高度なフィッティングルーチンを含む精巧なデータの後処理を組み合わせています。この方法は成功を収めています。TOPTICAのお客様は、シングルミクロンレベルの精度で20μmまでの厚さ測定を実現しています。

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