周波数ドメインテラヘルツ

最先端のテラヘルツ測定のための多彩なソリューション

周波数ドメインテラヘルツ分光の研究開発に携わる研究者またエンジニアに向けてトプティカ社では2種類の "TopSeller" 製品をご用意しています。 TeraScan 1550 および TeraScan 780です。 精密に制御されたDFB半導体レーザー、デジタルコントローラおよび最先端のGaAsまたはInGaAsフォトミキサー技術をベースにTeraScanシステムは容易な操作性と最高クラスの仕様を同時に実現しました。

 モジュール型の製品パッケージを追加することでcwテラヘルツ製品の機能を拡張することができます。TeraBeamTeraScanのサブシステムとなり、2台の分布帰還型半導体レーザー(DFB)、ファイバーオプティックビームコンバイナーおよびデジタルドライバーエレクトロニクスから構成されています。チューニングレンジ拡大オプションを用いることでほぼ3THzまでのバンド幅が利用でき、位相変調オプションは2台のファイバーストレッチャーから構成され高速で正確なテラヘルツ位相スキャンを可能とします。これらのパッケージは実験に必要とされるパーツを自由に選択・アップグレードしてご利用頂く事が可能です。

トプティカ社のテラヘルツシステムは世界各地の最先端の研究機関の協力の元開発されました。ボタンを押すだけで簡単に行えるテラヘルツ分光測定は今現実となりあなたの元に届けられます !

  • ピークダイナミックレンジ > 90 dB
  • 最先端の GaAs また InGaAs フォトミキサー技術
  • 差周波チューニングレンジ 最大2 THz
  • 周波数分解能 < 10 MHz
  • SM/PMファイバピッグテイルを採用したフルパッケージモジュール
  • 最大 100 µW の高い出力
  •     周波数可変レンジ 最大2.0 THz または 2.7 THz
  •     InGaAs フォトミキサーのフル帯域を利用可能
  • 光路長可変の変調機能 最大3 mm @ 1 kHz
  • Resolution booster - 位相と強度情報を最高分解能で取得可能に