TOPTICA Photonics AG - A passion for precision - www.toptica.com

近场化学成像

将扫描显微镜与近场色谱仪相结合

目前有几种现代显微技术为化学无损成像提供了可能性,成像分辨率可达几纳米。通过将扫描显微镜(如AFM)同近场色谱仪相结合,纳米级化学造影特征将变得可见。这些技术的例子有拉曼和荧光SNOM, TERS, SERS以及散射SNOM。

通过运用金属镀膜的AFM探针,增强测试信号可主要在探针尖端与样品中间极小的区域内产生。分辨率主要影响来自探针尖,即便是太赫兹信号,也可实现10nm的空间分辨率。

TOPTICA为这些技术提供性能强大的激光,波长范围覆盖深紫外到中红外,以便能够探测尽可能多的材料特性。例如 FemtoFiber dichro midIR 是目前市售唯一能提供5至15µm全波长范围的宽谱激光,该波长范围是红外光谱所谓的指纹区域。