ハイフィネス線幅アナライザー

狭線幅光源の周波数ノイズ、及び線形の測定、解析、コントロール用多目的機器

  • 周波数偏差の時間トレース測定
  • 周波数ノイズ密集スペクトラム
  • 強度ノイズスペクトラム
  • レーザー線形スペクトラム

ハイフィネスの線幅アナライザー (LWAs)は、レーザーの周波数及び強度ノイズの測定、解析及びコントロールを目的とし、多用途に使用できる堅固でコンパクトな機器です。精密なレーザーの特性をリアルタイムで測定するための理想的な装置です。

最高感度は、干渉計の動作原理とハイエンドな光学的及び電気的なコンポーネントとの結びつきにより達成されます。周波数偏向の経時変化の計算をベースとし、周波数ノイズ密集スペクトラム、350Hzに至るまでの本質的(Lorentzian)な線幅、及び有効(光学)線幅の評価による光学的な線形、及び相対強度ノイズ(RIN)の測定を可能にします。更なる解析によって、多くの追加情報を入手可能です。LWAの原理となる公正な測定は、光学的な遅延ライン技術より優れ、理由としては、非自明な評価に依存する後者の方法は、技術固有の情報不足に起因するためです。LWAは、PIDコントロールを利用した、レーザーの線幅低減も可能にします。
LWA-1kプロダクトシリーズは、非常に狭い線幅に至るまでの測定を可能にする装置です。LWA-100kプロダクトシリーズは、非常に広い波長レンジでの正確な線幅測定が可能です。

  • Specification

    LWA-1k Series
    • 周波数ノイズ密度:   50 Hz – 10 MHz
    • 光学 & ローレンツ線幅:   350 Hz – 20 MHz
    • 線幅狭窄化、PIDコントロール
    • 周波数分別がベース(干渉計)
      波長レンジ[nm] ノイズフロア[Hz/√Hz] 周波数ノイズバンド幅 固有線幅  レンジ 実効線幅  レンジ
    LWA-1k 780 760 - 1064 25 - 500 10 Hz - 10 MHz < 8 kHz < 10 kHz - 20 MHz
    LWA-1k 1550 1530 - 1565 5 - 100 10 Hz - 10 MHz < 350 Hz < 1 kHz - 20 MHz

     

    LWA-100k Series
    • 周波数ノイズ密度:   25 Hz – 10 MHz
    • 光学 & ローレンツ線幅:   2 kHz – 20 MHz
    • 線幅狭窄化、PIDコントロール
    • 周波数分別がベース(干渉計)
      波長レンジ [nm] ノイズフロア [Hz/√Hz] 周波数ノイズバンド幅 固有線幅  レンジ 実効線幅レンジ
    LWA-100k NIR 1064 - 1625 25 - 1000 25 Hz - 10 MHz < 2 kHz < 10 kHz - 20 MHz
    LWA-100k VIS          
  • Applications

    • レーザー製造
    • レーザー特性評価
    • 光通信
    • 線幅狭窄
    • 量子技術

  • Downloads

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